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膜厚测量仪探头使用问题

作者: 来源: 日期:2018/5/14 人气:1740

对于膜厚测量仪探头使用问题,小编来说说自己的见解,希望对您有一些参考作用。什么样的膜厚测量仪是信得过的产品或服务,不少人对于海量的膜厚测量仪有着困惑。

膜厚测量仪


在检测胶片厚度的过程中经常发现芯的磨损更厉害,有些可以说是严重损坏。沧州的欧洲谱,如N1头,经常被损坏和破坏,并且F1芯的核心被压或变形。首先,磨损作为探针在使用中是一种正常现象。但是,如果用户注意他们的特点,他们的服务寿命将延长。常见的问题是,在测量中,由于向下的测试,用户倾向于较低地推下桥墩,并且很容易引起探头头部的故障很长一段时间。
使用探针的正确方法是将探针轻轻地压在被测工件的一厘米表面上,因为探针在设计中建立了一个感应压力弹簧,只是轻轻按压。
另一点,在反复运动的过程中探测,容易敲击、碰撞和碰撞其他物体,也容易造成头部损坏,沧州欧谱,因此如果工作条件允许,测量头可以固定,工件将被测量到接触。CT探头,从而减少探头凸点。在另一种情况下,每当测量一个点时,有必要在不拉平的情况下提起探头,以减少芯部的磨损。
,探头远离强磁场,以免改变探头的固有频率,使探头无法工作。适当的操作将延长仪器的使用寿命。
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