您的位置: 首页 > 在线膜厚检测系统 >

产品展示

在线膜厚检测系统

A5-SR系列

A3-SRmapping系列

A4-SRM-100系列小光斑显微镜厚测量仪

A3-SR-系列反射式宽广谱膜厚测量仪

Apris Low-E 玻璃镀膜在线测色系统（OMS）

联系我们 Contact Us

联系人：顾先生
电    话：0512-57716856
手机号：18012663983
邮   箱：515105979@qq.com
网   址：www.apristech.cn
地   址：昆山开发区章基路135号加速器14栋104

A5-SR系列

  • 所属分类：在线膜厚检测系统
  • 浏览次数：396次
  • 发布日期：2023/10/17 15:03:41
  • 概述
A5-SR系列显微式反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜。具体包括但不限于氧化硅，氮化硅，多晶硅，PI，光刻胶等透明半透明的材料，测量范围在20纳米到30微米。光斑小于40微米。A5-SR系列可根据客户给出的Die分布图和标记，对整个硅片进行自动寻找，自动测量。
上一个：在线膜厚检测系统
下一个：A3-SRmapping系列

扫码添加微信

快捷导航
网站首页 关于我们 产品中心 新闻资讯 车间厂房 联系我们
产品中心
在线膜厚检测系统 A5-SR系列 A3-SRmapping系列 A4-SRM-100系列小光斑显微镜厚测量仪 A3-SR-系列反射式宽广谱膜厚测量仪 Apris Low-E 玻璃镀膜在线测色系统（OMS）
联系我们

联系人：顾先生

邮 箱：515105979@qq.com

手机号：180 1266 3983

座 机：0512-57716856

地 址：昆山开发区章基路135号加速器14栋104

网 址：www.apristech.cn

@昆山胜泽光电科技有限公司 备案号：苏ICP备15049177号 技术支持：仕德伟科技