浅聊光学测厚仪测量注意事项

  光学测厚仪应用较为广泛，在测量时有很多注意事项。现在就和大家简单聊一聊关于光学测厚仪测量注意事项。  
  1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
  2、测量时侧头与试样表面保持垂直。
  3、测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
  4、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

  5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

  6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
  7、在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
  8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。   
  关于光学测厚仪测量注意事项的内容今天就和大家介绍到这，如果想要了解更多关于光学测厚仪，请关注昆山胜泽光电科技有限公司，从事在线测厚仪,膜厚测试仪,光学测厚仪,膜厚测量仪,涂层测厚仪,pet涂布测厚仪等仪器的生产，咨询热线：0512-57716856。