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产品名称: 半导体显微膜厚测量仪

发布日期: 2017-04-25

点击数: 6509

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半导体小光斑显微膜厚测量仪介绍页:

 

型号:A3-SRM-100; 波长范围:400-900nm, 测量范围:15nm-100um, 光斑大小5-40um

 

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A3-SRM-100小光斑显微膜厚测量仪


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